[发明专利]分析装置、分析方法以及程序在审
申请号: | 201880093254.9 | 申请日: | 2018-05-07 |
公开(公告)号: | CN112136040A | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 下村学 | 申请(专利权)人: | 株式会社岛津制作所 |
主分类号: | G01N27/62 | 分类号: | G01N27/62;G01N30/72 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 分析装置具备:离子化部,其使被导入到分离柱的载气离子化;质量分离部,其对由离子化部生成的离子进行质量分离;检测部,其以规定的倍增率放大并检测由质量分离部质量分离出的离子,并且输出检测信号;解析部,其对从检测部输出的检测信号进行解析;以及调整部,其基于由检测部检测出的与载气对应的检测信号的大小,进行检测部的倍增率和/或向质量分离部的离子输送系统中的电极施加的电压的调整。 | ||
搜索关键词: | 分析 装置 方法 以及 程序 | ||
【主权项】:
暂无信息
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