[发明专利]探针检查机构以及检查装置在审
申请号: | 201880097345.X | 申请日: | 2018-12-17 |
公开(公告)号: | CN112673268A | 公开(公告)日: | 2021-04-16 |
发明(设计)人: | 佐藤真吾;高桥彰博 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G01R35/02 | 分类号: | G01R35/02;G01R1/067;G01R31/385 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 戚宏梅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 实施方式的探针检查机构具备基座、一对可动体、可动体用弹性体及导电体。一对可动体分别以能够从以基座为基准的第1位置向第1方向移动的方式被支撑于基座,具有端部和与端部电连接的端子。一对可动体用弹性体将可动体向第2方向弹性地推压。导电体被支撑于基座,通过与一对可动体的各端子接触而将各端子电连接。端子与导电体的状态为,与可动体的位置相应地被切换为端子与导电体接触的导通状态、以及端子与导电体分离的非导通状态。 | ||
搜索关键词: | 探针 检查 机构 以及 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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