[发明专利]用于透明或半透明材料曲面的测量系统在审

专利信息
申请号: 201880098407.9 申请日: 2018-11-08
公开(公告)号: CN112840175A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 向贤毅;吴明军 申请(专利权)人: 成都频泰鼎丰企业管理中心(有限合伙)
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00;G01N21/95
代理公司: 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 代理人: 赵中璋
地址: 610015 四川省成都*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种用于透明或半透明材料曲面的测量系统(1),包括:表面处理装置(10)、三维测量装置(20)和第二传送装置;表面处理装置(10)用于对透明或半透明材料的表面进行霜化或雾化,形成霜化或雾化表面,即在透明或半透明材料的表面形成均匀的霜或雾;三维测量装置(20)用于对霜化或雾化后的透明或半透明材料的表面进行三维测量,从而获取测量数据;第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到三维测量装置(20)。
搜索关键词: 用于 透明 半透明 材料 曲面 测量 系统
【主权项】:
暂无信息
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