[发明专利]用于透明或半透明材料曲面的测量系统在审
申请号: | 201880098407.9 | 申请日: | 2018-11-08 |
公开(公告)号: | CN112840175A | 公开(公告)日: | 2021-05-25 |
发明(设计)人: | 向贤毅;吴明军 | 申请(专利权)人: | 成都频泰鼎丰企业管理中心(有限合伙) |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01N21/95 |
代理公司: | 北京锺维联合知识产权代理有限公司 11579 | 代理人: | 赵中璋 |
地址: | 610015 四川省成都*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 一种用于透明或半透明材料曲面的测量系统(1),包括:表面处理装置(10)、三维测量装置(20)和第二传送装置;表面处理装置(10)用于对透明或半透明材料的表面进行霜化或雾化,形成霜化或雾化表面,即在透明或半透明材料的表面形成均匀的霜或雾;三维测量装置(20)用于对霜化或雾化后的透明或半透明材料的表面进行三维测量,从而获取测量数据;第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到三维测量装置(20)。 | ||
搜索关键词: | 用于 透明 半透明 材料 曲面 测量 系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
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