[发明专利]用于检测电磁辐射的方法和系统在审
| 申请号： | 201880099126.5 | 申请日： | 2018-10-29 |
| 公开（公告）号： | CN113348346A | 公开（公告）日： | 2021-09-03 |
| 发明（设计）人： | 菲利普·亚瑟·让·吉斯兰·舍瓦利耶 | 申请（专利权）人： | 莱瑟奥尼克斯有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00;G01J5/08;G01J5/02;G01J5/06;G01J5/38;G01J5/48;G01J5/58 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 王达佐;王艳春 |
| 地址： | 比利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于对来自物体的电磁辐射进行成像的装置和方法。装置包括入射光学器件，入射光学器件用于允许电磁辐射进入装置，入射光学器件包括物体的图像将要在其上成像的图像平面。装置包括干涉仪，干涉仪具有测量臂，其中图像平面在测量臂中。装置在图像平面处包括转换层，用于将电磁辐射转换成转换层的折射率的时空变化，以便在干涉仪的测量臂中引起被处理以产生物体的代表图像的时空光学相位差。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 电磁辐射 方法 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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