[发明专利]接合体及半导体装置的制造方法以及接合用铜糊在审

专利信息
申请号: 201880099778.9 申请日: 2018-11-29
公开(公告)号: CN113166945A 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 川名祐贵;中子伟夫;根岸征央;须镰千绘;江尻芳则;谷中勇一 申请(专利权)人: 昭和电工材料株式会社
主分类号: C23C20/04 分类号: C23C20/04;H01L21/52
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 黄隶凡
地址: 日本东京千代*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的一形态提供一种接合体的制造方法,包括:准备依次层叠有第一构件、接合用铜糊及第二构件的层叠体的步骤;以及将接合用铜糊在受到0.1MPa~1MPa的压力的状态下予以烧结的步骤,其中,接合用铜糊含有金属粒子及分散介质,金属粒子的含量以接合用铜糊的总质量为基准,为50质量%以上,金属粒子含有以所述金属粒子的总质量为基准,为95质量%以上的次微米铜粒子。
搜索关键词: 接合 半导体 装置 制造 方法 以及 用铜糊
【主权项】:
暂无信息
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