[发明专利]用于在光学失真介质中测量表面特性的方法在审

专利信息
申请号: 201880100212.3 申请日: 2018-10-12
公开(公告)号: CN113396312A 公开(公告)日: 2021-09-14
发明(设计)人: D·斯托塔米尔;D·赫西 申请(专利权)人: 电力研究所有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G06T7/521
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 董婕;陈岚
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了一种用于测量物体的至少一部分的表面特性的方法,包括:提供光源;在物体的至少一部分上生成第一干涉图案;捕获第一干涉图案的图像;偏移光源的相位以生成第二干涉图案;捕获第二干涉图案的图像;从干涉图案中滤除失真;基于图像提取物体的至少一部分的包裹相位;展开物体的至少一部分的包裹相位以生成展开相位;识别到物体的至少一部分的计算深度图距离;以及将理想部分拟合到物体的至少一部分的计算深度图,以测量表面特性。
搜索关键词: 用于 光学 失真 介质 测量 表面 特性 方法
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电力研究所有限公司,未经电力研究所有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880100212.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top