[发明专利]用于在光学失真介质中测量表面特性的方法在审
| 申请号： | 201880100212.3 | 申请日： | 2018-10-12 |
| 公开（公告）号： | CN113396312A | 公开（公告）日： | 2021-09-14 |
| 发明（设计）人： | D·斯托塔米尔;D·赫西 | 申请（专利权）人： | 电力研究所有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G06T7/521 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 董婕;陈岚 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了一种用于测量物体的至少一部分的表面特性的方法，包括：提供光源；在物体的至少一部分上生成第一干涉图案；捕获第一干涉图案的图像；偏移光源的相位以生成第二干涉图案；捕获第二干涉图案的图像；从干涉图案中滤除失真；基于图像提取物体的至少一部分的包裹相位；展开物体的至少一部分的包裹相位以生成展开相位；识别到物体的至少一部分的计算深度图距离；以及将理想部分拟合到物体的至少一部分的计算深度图，以测量表面特性。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 失真 介质 测量 表面 特性 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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