[发明专利]用于在光学失真介质中测量表面特性的方法在审
申请号: | 201880100212.3 | 申请日: | 2018-10-12 |
公开(公告)号: | CN113396312A | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | D·斯托塔米尔;D·赫西 | 申请(专利权)人: | 电力研究所有限公司 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G06T7/521 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 董婕;陈岚 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种用于测量物体的至少一部分的表面特性的方法,包括:提供光源;在物体的至少一部分上生成第一干涉图案;捕获第一干涉图案的图像;偏移光源的相位以生成第二干涉图案;捕获第二干涉图案的图像;从干涉图案中滤除失真;基于图像提取物体的至少一部分的包裹相位;展开物体的至少一部分的包裹相位以生成展开相位;识别到物体的至少一部分的计算深度图距离;以及将理想部分拟合到物体的至少一部分的计算深度图,以测量表面特性。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 失真 介质 测量 表面 特性 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电力研究所有限公司,未经电力研究所有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201880100212.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:基板收纳容器
- 下一篇:一种建立光缆连接的方法及装置