[发明专利]有序微点阵列在审
| 申请号： | 201880100238.8 | 申请日： | 2018-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN113227765A | 公开（公告）日： | 2021-08-06 |
| 发明（设计）人： | F·达普佐;S·巴塞洛;R·N·森古普塔 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | G01N21/62 | 分类号： | G01N21/62 |
| 代理公司： | 北京市汉坤律师事务所 11602 | 代理人： | 初媛媛;吴丽丽 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 在示例方法中，利用电磁辐射的激发束探测有序微点阵列，该有序微点阵列包括打印在分析芯片的表面增强基底的表面上的分析物。检测来自有序微点阵列中的多个微点的发射辐射。基于发射辐射相较于激发束的检测到的偏移来为分析芯片生成关于分析物的校准数据。 | ||
| 搜索关键词： | 有序 阵列 | ||
【主权项】：
暂无信息
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