[发明专利]一种用于现场低能γ射线测量的散射抑制探测结构在审
申请号: | 201910000249.5 | 申请日: | 2019-01-01 |
公开(公告)号: | CN109725342A | 公开(公告)日: | 2019-05-07 |
发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军63653部队 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24;G01T1/202 |
代理公司: | 乌鲁木齐新科联知识产权代理有限公司 65107 | 代理人: | 祁磊 |
地址: | 830000 新疆维吾*** | 国省代码: | 新疆;65 |
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摘要: | 本发明主要应用于现场测量241Am低能γ射线,特别是一种用于现场低能γ射线测量的散射抑制探测结构,主探测器设计成圆柱井形结构,在呈圆柱井形的主探测器中放置抑制探测器,根据低能γ射线的能量沉积分布特点,选用具有高分辨率的高纯锗HPGe作为主探测器,选用具有较高探测效率的锗酸铋BGO闪烁晶体作为抑制探测器,抑制探测器设计成圆柱形实体结构;在满足便携性要求前提下选择合适的圆柱井形主探测器的直径D+2T和长度L+T,主探测器周壁径向厚度与底部厚度T在2‑9mm内统一选取,圆柱形抑制探测器的直径D与长度L由主探测器的直径与长度尺寸确定。本发明可有效提高现场测量低能γ射线的能力。 | ||
搜索关键词: | 低能γ射线 主探测器 探测器 探测结构 现场测量 散射 井形 测量 高探测效率 探测器设计 圆柱形实体 尺寸确定 分布特点 高分辨率 井形结构 能量沉积 闪烁晶体 便携性 高纯锗 锗酸铋 周壁 应用 统一 | ||
【主权项】:
1.一种用于现场低能γ射线测量的散射抑制探测结构,其特征在于:主探测器设计成圆柱井形结构,在呈圆柱井形的主探测器中放置抑制探测器,根据低能γ射线的能量沉积分布特点,选用具有高分辨率的高纯锗HPGe作为主探测器,选用具有较高探测效率的锗酸铋BGO闪烁晶体作为抑制探测器,抑制探测器设计成圆柱形实体结构;在满足便携性要求前提下选择合适的圆柱井形主探测器的直径D+2T和长度L+T,主探测器周壁径向厚度与底部厚度T在2‑9mm内统一选取,圆柱形抑制探测器的直径D与长度L由主探测器的直径与长度尺寸确定。
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