[发明专利]3d线状激光扫描测量设备的线状激光光斑纵向匀光方法在审
| 申请号： | 201910002618.4 | 申请日： | 2019-01-02 |
| 公开（公告）号： | CN109521573A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 袁春辉 | 申请（专利权）人： | 苏州天准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G02B27/09 | 分类号： | G02B27/09 |
| 代理公司： | 苏州国诚专利代理有限公司 32293 | 代理人： | 杜丹盛 |
| 地址： | 215163 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了3d线状激光扫描测量设备的线状激光光斑纵向匀光方法，其使得激光扇面二次通过光学元件后使得激光线变得均匀，提高了激光扫描设备的测量精度。在激光扇面和被测物之间放置光学元件，光学组件与所述激光扇面同轴布置，激光全部通过光学元件，所述光学元件用于将单个激光扇面分解为两个独立的第二激光扇面后朝向被测物进行扫描，且两个独立的第二激光扇面的光斑部分重合，使得激光线变得均匀。 | ||
| 搜索关键词： | 激光扇面 光学元件 线状激光光斑 扫描测量 线状激光 被测物 激光线 匀光 激光 激光扫描设备 光斑 光学组件 同轴布置 重合 测量 扫描 分解 | ||
【主权项】：
1.3d线状激光扫描测量设备的线状激光光斑纵向匀光方法，其特征在于：在激光扇面和被测物之间放置光学元件，光学组件与所述激光扇面同轴布置，激光全部通过光学元件，所述光学元件用于将单个激光扇面分解为两个独立的第二激光扇面后朝向被测物进行扫描，且两个独立的第二激光扇面的光斑部分重合，使得激光线变得均匀。
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