[发明专利]一种基于正电子湮没技术测量液体中杂质粒径的方法有效
| 申请号： | 201910004017.7 | 申请日： | 2019-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN109632850B | 公开（公告）日： | 2021-06-15 |
| 发明（设计）人： | 孙通;赵敏;姚敏;郭瑞鹏 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N23/22 | 分类号： | G01N23/22 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 葛潇敏 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于正电子湮没技术测量液体中杂质粒径的方法，包括如下步骤：步骤1，将γ光子探测器安装在待测液体的管道上，同时将一定活度的核素与含有杂质的待测液体充分混合后注入管道中；步骤2，核素产生β衰变放出正电子，正电子与待测液体中的电子碰撞发生湮没反应，产生γ光子对，此时γ光子探测器记录接收到的γ光子；步骤3，设置能量窗的长度，确保未发生散射的γ光子和发生散射的γ光子均能被检测到；步骤4，计算颗粒散射比，进而得到杂质颗粒平均粒径。此种方法可实现高温高压强腐蚀的密闭环境下液体中不可溶杂质颗粒的平均粒径的实时非接触式测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 正电子 湮没 技术 测量 液体 杂质 粒径 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于正电子湮没技术测量液体中杂质粒径的方法，其特征在于包括如下步骤：步骤1，将γ光子探测器安装在待测液体的管道上，同时根据待测液体的种类和管道的材质选择核素的种类和活度，将核素与含有杂质的待测液体充分混合后注入管道中；步骤2，核素产生β衰变放出正电子，正电子与待测液体中的电子碰撞发生湮没反应，产生γ光子对，此时γ光子探测器记录接收到的γ光子；步骤3，设置能量窗的长度，确保未发生散射的γ光子和发生散射的γ光子均能被检测到；步骤4，计算颗粒散射比，进而得到杂质颗粒平均粒径。
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