[发明专利]霍尔探头有效测量位置的测定方法有效
| 申请号： | 201910008333.1 | 申请日： | 2019-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN109855521B | 公开（公告）日： | 2020-08-04 |
| 发明（设计）人： | 冯峰;瞿体明;马增贤;母辉;汪林立;杨置荣 | 申请（专利权）人： | 清华大学深圳研究生院 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 518055 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 霍尔探头有效测量位置的测定方法，属于磁场测量领域。将标准导线安装在样品台上；霍尔探头移动到接近标准导线；标准导线通电，并移动霍尔探头到导线的中心位置；测量已知通电标准导线的中心位置的磁场强度。根据标准导线的磁感应强度B、电流I、高度h和标准导线的尺寸参数的关系式，基于使用的电流值、测得的磁感应强度值和标准导线的尺寸参数值，计算得到霍尔探头有效测量位置距离探头底部高度h的值。更优的通过修改电流值多次测量，或通过使用不同宽度的标准导线来进行多次测量，使用数据拟合的方法获得更高的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 霍尔 探头 有效 测量 位置 测定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种霍尔探头有效测量位置的测定方法，用于测量霍尔探头有效测量位置距离探头底部的高度h，包括以下步骤：S1、将标准导线在样品安装台上安装固定；S2、将标准导线通恒定直流电，电流为I；S3、将霍尔探头移动接近标准导线表面；S4、使用二维扫描装置控制霍尔探头在标准导线上方扫描测量，获得磁感应强度值最大的位置即标准导线中心位置；S5、将霍尔探头下移，使探头底部与标准导线接触，测量标准导线中心位置在高度h处的磁感应强度值B；S6、根据标准导线的磁感应强度B、电流I、高度h和标准导线的尺寸参数的关系式，计算得到霍尔探头有效测量位置距离探头底部高度h的值。
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