[发明专利]一种受激发射损耗显微镜的成像系统

摘要

本发明公开了一种受激发射损耗显微镜的成像系统，包括损耗光单元、激发光单元、成像单元与计数器单元，损耗光单元产生环形损耗光并控制环形损耗光的光强和偏振，激发光单元被损耗光单元触发后发出高斯型激发光，高斯型激发光经过第三格兰棱镜分为第一高斯型激发光与第二高斯型激发光，环形损耗光与第一高斯型激发光重叠后输入成像单元，成像单元对样品进行扫描成像并收集荧光信号。第二高斯型激发光作为参考信号，与荧光信号一并进入计数器单元，用于荧光强度成像和荧光寿命成像。当施加较低的环形损耗光能量时，样品的荧光寿命随着激光照射时间而增加，增加的荧光寿命降低了荧光样品的饱和强度，进而可以实现成像分辨率的进一步提高。

主权项

1.一种受激发射损耗显微镜的成像系统，其特征在于，所述系统包括损耗光单元、激发光单元、成像单元与计数器单元；所述损耗光单元用于产生预设脉冲频率的环形损耗光并调节控制所述环形损耗光的光强，所述环形损耗光的激光波前为环形；所述损耗光单元与所述激发光单元连接，所述激发光单元用于在所述损耗光单元的触发下产生所述脉冲频率的高斯型激发光，并将所述高斯型激发光分为第一高斯型激发光与第二高斯型激发光，所述高斯型激发光的激光波前为高斯型，所述高斯型激发光与所述环形损耗光之间的脉冲峰值间隔为预设脉冲间隔值；所述环形损耗光与所述第一高斯型激发光汇合重叠后输入所述成像单元，所述成像单元用于对样品进行面阵扫描成像并收集所述样品反射的荧光信号，所述荧光信号和所述第二高斯型激发光分别射入所述计数器单元，所述计数器单元用于基于所述荧光信号和所述第二高斯型激发光进行荧光强度成像和荧光寿命成像。