[发明专利]一种微波场场强测量系统及测量方法有效
| 申请号： | 201910011294.0 | 申请日： | 2019-01-07 |
| 公开（公告）号： | CN109633290B | 公开（公告）日： | 2021-03-23 |
| 发明（设计）人： | 李翠红;杜爱民;葛亚松;冯晓;唐衡;袁恺鑫;赵琳;孙树全 | 申请（专利权）人： | 中国科学院地质与地球物理研究所;中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 曹卫良 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： |
本发明适用于微波场场强测量技术领域，提供了一种微波场场强测量系统及测量方法，其中该微波场场强测量方法包括：将待测芯片放在物镜上；利用定性的方法测得σ |
||
| 搜索关键词： | 一种 微波 场强 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种微波场场强测量系统，其特征在于，包括：宽场显微装置、具有NV色心系综的金刚石芯片、偏置磁铁、微波源及CCD相机；所述宽场显微装置中的物镜下方依次设置具有NV色心系综的金刚石芯片及偏置磁铁，所述具有NV色心系综的金刚石芯片的NV色心位于物镜焦平面位置，所述宽场显微装置的输出端与所述CCD相机的输入端连接，所述微波源的信号传输线位于具有NV色心系综的金刚石芯片上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院地质与地球物理研究所;中国科学院大学，未经中国科学院地质与地球物理研究所;中国科学院大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910011294.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
