[发明专利]一种诊断HBSM内部IGBT开路故障的新方法在审
| 申请号： | 201910014615.2 | 申请日： | 2019-01-08 |
| 公开（公告）号： | CN109541377A | 公开（公告）日： | 2019-03-29 |
| 发明（设计）人： | 杨晓明;毛安家;陈聪 | 申请（专利权）人： | 华北电力大学 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;G01R31/26;G01R31/27 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102206*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种诊断HBSM内部IGBT开路故障的新方法，该方法需要获得MMC中半桥子模块HBSM的工作状态Sn、测量得到各子模块电容电压ucn，并对ucn进行微分得到各子模块电容电流icn，再对icn进行积分得到任一工作状态下子模块输出电压uSMn，之后利用Sn、ucn和uSMn计算参数λn的值，若λn＝0或3，说明第n个HBSM处于正常工作状态；若λn＝2，说明第n个HBSM中T1n发生开路；若λn＝1，说明第n个HBSM中T2n发生开路。本发明需要的MMC中的参数只有各个HBSM的工作状态Sn及电容电压ucn，采用的计算公式形式简单，计算结果清晰明了，λn仅有0、1、2和3这四种数值。因此，该种方法可以在使用尽量少的参数的前提下，实现快速、有效地定位发生故障的HBSM及IGBT，该方法可为MMC本体内部故障诊断及保护配置提供参考。 | ||
| 搜索关键词： | 子模块 电容电压 开路故障 诊断 开路 模块输出电压 正常工作状态 保护配置 电容电流 发生故障 计算参数 计算公式 内部故障 有效地 半桥 测量 参考 清晰 | ||
【主权项】：
1.一种诊断HBSM内部IGBT开路故障的新方法，其特征在于：本发明需要的MMC中的参数只有各个HBSM的工作状态及电容电压，采用的计算公式形式简单，计算结果清晰明了，仅有0、1、2和3这四种数值，因此，该种方法可以在使用尽量少的参数的前提下，实现快速、有效地定位发生故障的HBSM及IGBT。
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