[发明专利]一种基于深度学习的红外无损检测方法有效

专利信息
申请号: 201910015187.5 申请日: 2019-01-08
公开(公告)号: CN109919905B 公开(公告)日: 2021-04-06
发明(设计)人: 曹彦鹏;董亚飞;贾淑凯;杨将新;曹衍龙 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06N3/04;G01N25/72
代理公司: 杭州橙知果专利代理事务所(特殊普通合伙) 33261 代理人: 杜放
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 基于深度学习的红外无损检测方法包括设计和制作样本,设计样本上的缺陷位置并获得设计图;用红外相机记录图像序列;对每一个图像序列中的每一个像素点在时间序列中进行预处理;利用建立深度学习模型,在时间序列中提取相位特征;将每个点的相位特征在其所在图像中显示出来。本发明具有能够自主提取特征、区分缺陷区域,并且能够对图像中的噪声有一定抑制作用的优点。
搜索关键词: 一种 基于 深度 学习 红外 无损 检测 方法
【主权项】:
1.基于深度学习的红外无损检测方法,包括以下步骤:S1、设计和制作样本,设计样本上的缺陷位置并获得设计图;S2、获取样本,对用外部热源对样本进行加热,用红外相机记录该样本的加热过程中样本的温度变化,每一个加热过程获得一个图像序列;一个加热过程包括红外热激发,红外吸收和红外消散;S3、对每一个图像序列中的每一个像素点在时间序列中进行预处理,比如,去除低频趋势项操作,从而去除随着加热过程造成的温度升高趋势;S4、利用建立深度学习模型,在时间序列中提取相位特征:S4.1、获取任意一个图像序列作为当前图像序列,获取当前图像序列的每一张图像中的任意两个像素点作为点对;S4.2、将当前图像与样本的设计图进行比对,将缺陷范围内的像素点的标记值设为1,将缺陷范围外的像素点的标记值设为0,将点对的标记值相减再取反获得当前图像的Label值;S4.3、建立卷积神经网络模型,以点对作为卷积神经网络模型的输入;卷积神经网络模型包括卷积层和池化层,卷积层和池化层交替进行,卷积层采用空洞卷积,池化层采用Max策略,整个训练过程包括前向传播和反向传播,反向传播中用梯度下降法优化权重和偏置;最后一个池化层之后为全连接层,全连接层之后为均方差误差函数;S4.4、计算图像的Label值与均方差误差函数的输出之间的误差,通过优化卷积神经网络模型的卷积、池化的权重和偏置来减小Label值与均方差误差函数的输出值之间的误差;当误差稳定后,将该卷积神经网络模型作为深度学习模型,用于输入图像的相位特征提取;S5、将每个点的相位特征在其所在图像中显示出来。
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