[发明专利]一种晶元纹理图像周期的自动测量方法和系统有效
申请号: | 201910017997.4 | 申请日: | 2019-01-09 |
公开(公告)号: | CN109781736B | 公开(公告)日: | 2021-07-06 |
发明(设计)人: | 杨义禄;左右祥;李波;关玉萍 | 申请(专利权)人: | 中导光电设备股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88;G06T5/00 |
代理公司: | 广州维智林专利代理事务所(普通合伙) 44448 | 代理人: | 赵晓慧 |
地址: | 526238 广东省肇庆市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶元纹理图像周期的自动测量方法和系统,包括以下步骤:首先采集到的周期纹理图像进行高斯滤波,已达到过滤信号噪声的目的。接下来对高斯滤波后的图像进行二维快速傅里叶变换,得到图像的频谱和相位,然后对频谱和相位在频域计算自相关。对求取自相关的结果进行求取局部极大值坐标,最后根据极大值坐标求出纹理图像的周期。本发明基于频域自相关的方法快速计算出晶元纹理图像的周期,精度高,速度快,鲁棒性好。 | ||
搜索关键词: | 一种 纹理 图像 周期 自动 测量方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种晶元纹理图像周期的自动测量方法,其特征在于,包括以下步骤:对晶元纹理图像进行高斯滤波,去除图像信号噪声;对滤波后的图像计算快速傅里叶变换,得出图像的相位和幅值信息;在频域对滤波后的图像进行计算自相关;求取所述自相关的结果的局部极大值;计算相邻局部极大值之间的距离,即为晶元纹理图像周期。
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