[发明专利]一种RFID读写器集成测试系统及方法有效
| 申请号： | 201910020112.6 | 申请日： | 2019-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN109800608B | 公开（公告）日： | 2022-11-04 |
| 发明（设计）人： | 王斌 | 申请（专利权）人： | 运鼎科技（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G06K7/00 | 分类号： | G06K7/00 |
| 代理公司： | 北京天驰君泰律师事务所 11592 | 代理人： | 沈超 |
| 地址： | 100015 北京市朝阳*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种RFID读写器集成测试系统及方法，所述系统包括：转换装置，包括至少一个A端接口及至少一个B端接口；测试设备，用于获取测试数据；以及上位机，其分别与读写器和测试设备相连接，按照测试流程控制读写器，并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和射频性能参数；其中，所述A端接口中的至少一个适于与所述读写器的至少一个天线端口连接；至少一个B端接口适于与所述测试设备的射频接口连接。本发明由上位机自动化地控制测试流程，不再由人工进行设备的连接，提高了生产效率。在数据处理时，设置足够多的测试点，并采用优化的算法，因而数测试数据可靠性高，且数据处理的速度快、准确率高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 rfid 读写 集成 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种RFID读写器集成测试系统，其特征在于，包括：转换装置，包括至少一个A端接口及至少一个B端接口；测试设备，用于获取测试数据；以及上位机，其分别与读写器和测试设备相连接，按照测试流程控制读写器，并根据从测试设备获得的测试数据计算校准参数和射频性能参数；其中，所述A端接口中的至少一个适于与所述读写器的至少一个天线端口连接；至少一个B端接口适于与所述测试设备的射频接口连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于运鼎科技（北京）有限公司，未经运鼎科技（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910020112.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
