[发明专利]一种基于围长约束与EMD的低错误平层LDPC码构造方法在审
申请号: | 201910020989.5 | 申请日: | 2019-01-09 |
公开(公告)号: | CN109756233A | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 袁建国;王宏森;张希瑞;范福卓;袁梦;刘家齐;庞宇;林金朝 | 申请(专利权)人: | 重庆邮电大学 |
主分类号: | H03M13/11 | 分类号: | H03M13/11 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 400065 *** | 国省代码: | 重庆;50 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于围长约束与EMD的低错误平层LDPC码构造方法,该方法针对LDPC码在高信噪比区域易出现错误平层现象,利用围长约束和EMD提升环的连通性,降低陷阱集出现的概率,最终达到降低错误平层的目的。其方法过程为:首先以PEG算法为基础,通过围长约束并设定变量节点EMD阈值逐列构造得到初始矩阵,然后新增一个校验节点,进一步提升环的连通性得到最终的校验矩阵。仿真结果表明,所构造的码率为0.5的PGAE‑LDPC(3024,1512)码与同码长码率的两种LDPC码型相比,其纠错性能更为优越,且该码型在信噪比2.2dB以后并未出现明显的错误平层。因而该方案能满足通信系统中低错误平层的要求。 | ||
搜索关键词: | 错误平层 连通性 提升环 码率 变量节点 初始矩阵 仿真结果 纠错性能 校验节点 校验矩阵 信噪比 通信系统 高信 码长 码型 陷阱 概率 | ||
【主权项】:
1.一种基于围长约束与额外信息度(extrinsic message degree,EMD)的低错误平层低密度奇偶校验(low‑densityparity‑check,LDPC)码构造方法,其特征在于:针对LDPC码在高信噪比区域出现的误码率曲线由降水曲线变为平缓的错误平层现象,利用围长约束和EMD提升环的连通性,降低陷阱集出现的概率,最终达到降低错误平层的目的。其方法过程为:首先利用PEG算法为基础,通过围长约束增大校验矩阵的平均围长,并设定变量节点EMD阈值初步增大矩阵中环的连通性,逐列构造得到初始矩阵,搜索得到构成环的变量节点的EMD值并排序,得到构成环最多的且EMD最小的变量节点,然后在初始矩阵对应的Tanner图中增加一个校验节点,在不构成短环的情况下,将搜索到的变量节点与新增的校验节点相连,进一步提升环的连通性得到最终的校验矩阵。
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