[发明专利]大面积纳米光刻系统及其方法有效

专利信息
申请号: 201910024456.4 申请日: 2019-01-10
公开(公告)号: CN111427237B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 浦东林;陈林森;朱鹏飞;朱鸣;邵仁锦 申请(专利权)人: 苏州苏大维格科技集团股份有限公司;苏州大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 代理人: 周景
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种大面积纳米光刻系统,包括工件台、位置反馈系统、干涉光学系统和控制系统,工件台上设有待光刻的光刻基片;位置反馈系统用于测量和计算工件台的误差;干涉光学系统用于产生干涉曝光场,对光刻基片进行干涉光刻,干涉光学系统包括衍射光学器件;控制系统分别与该工件台、该位置反馈系统和该干涉光学系统电性连接;该控制系统控制该衍射光学器件的运动,用以补偿该工件台的误差。本发明的大面积纳米光刻系统能达到大面积纳米结构高精度制备。本发明还涉及一种大面积纳米光刻方法。
搜索关键词: 大面积 纳米 光刻 系统 及其 方法
【主权项】:
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