[发明专利]一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201910028116.9 申请日: 2019-01-11
公开(公告)号: CN109631875A 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 楚明磊;董泽华;张浩;陈丽莉;王雪丰;孙玉坤;赵斌 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G01C21/00 分类号: G01C21/00;G01C1/00
代理公司: 北京正理专利代理有限公司 11257 代理人: 付生辉
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法、系统和计算机存储介质,所述方法包括:利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态;利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态;将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差,若姿态误差不满足预设范围,以所述第一姿态为基准调整所述传感器姿态融合测量方法的测量参数,重新获得所述第一姿态和第二姿态直至所述姿态误差满足所述预设范围。本发明提供的实施例能够解决姿态融合测量方法优化过程中姿态数据没有比对基准的问题,尤其在运动过程中以机器视觉姿态测量方法获得的第一姿态姿为基准确定传感器姿态融合测量方法存在的问题并进行优化。
搜索关键词: 传感器姿态 测量 融合 姿态误差 机器视觉 姿态测量 优化 预设 计算机存储介质 比对基准 测量参数 基准调整 基准确定 空间目标 所述空间 运动过程 姿态数据 比对
【主权项】:
1.一种对传感器姿态融合测量方法进行优化的方法,其特征在于,包括:利用机器视觉姿态测量方法获得空间目标的第一姿态;利用传感器姿态融合测量方法获得所述空间目标的第二姿态;将所述第一姿态与第二姿态在同一坐标系下进行比对并获得姿态误差,若姿态误差不满足预设范围,以所述第一姿态为基准调整所述传感器姿态融合测量方法的测量参数,重新获得所述第一姿态和第二姿态直至所述姿态误差满足所述预设范围。
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