[发明专利]封装结构及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201910031762.0 申请日: 2019-01-14
公开(公告)号: CN109755197A 公开(公告)日: 2019-05-14
发明(设计)人: 王宏杰 申请(专利权)人: 苏州通富超威半导体有限公司
主分类号: H01L23/367 分类号: H01L23/367;H01L25/16
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 徐文欣;吴敏
地址: 215021 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种封装结构及其形成方法,其中,封装结构包括:基板,所述基板包括承载面,所述基板的承载面表面固定有若干个被动元件;固定于所述基板的承载面表面的至少一个芯片,所述芯片与被动元件相互分立,所述芯片包括相对的第一面和第二面,所述第一面与基板承载面接触;固定于芯片第二面的焊料层;固定于基底上的散热结构,所述散热结构包括位于承载面表面的第二散热部和位于第二散热部顶部的第一散热部,部分第一散热部与焊料层接触,第二散热部位于芯片与被动元件之间,所述第二散热部包围至少一个芯片。所述封装结构的性能较好。
搜索关键词: 散热部 芯片 封装结构 承载面 基板 被动元件 散热结构 焊料层 基板承载面 表面固定 散热部位 第二面 分立 基底 包围
【主权项】:
1.一种封装结构的形成方法,其特征在于,包括:提供基板,所述基板包括承载面,所述基板的承载面表面固定有若干个被动元件;在所述基板的承载面表面固定至少一个芯片,所述芯片与所述被动元件相互分立,所述芯片包括相对的第一面和第二面,所述第一面与基板承载面接触;在芯片的第二面固定焊料层;在所述基板的承载面上固定散热结构,所述散热结构包括位于承载面表面的第二散热部以及位于第二散热部顶部表面的第一散热部,部分所述第一散热部与焊料层接触,所述第二散热部包围至少一个所述芯片,且所述第二散热部位于芯片与被动元件之间;在所述基板的承载面上固定散热结构之后,对焊料层进行熔融处理。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州通富超威半导体有限公司,未经苏州通富超威半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910031762.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top