[发明专利]一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法在审
| 申请号： | 201910043444.6 | 申请日： | 2019-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN109936407A | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 王旭东;杨伟强 | 申请（专利权）人： | 四川天邑康和通信股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B10/079 | 分类号： | H04B10/079;H04B10/556;H04B10/69 |
| 代理公司： | 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 51218 | 代理人： | 袁英 |
| 地址： | 610000 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法，包括以下步骤：S1：分析干扰源以及干扰方式；S2：分析潜在干扰产生环节，包括BOB驱动电路电源系统、BOSA器件和主芯片到驱动芯片的调制信号；S3：针对S2各环节设置实验，验证干扰状态。通过最简单、最直接、最有效的分析该问题，确定干扰问题的直接原因。 | ||
| 搜索关键词： | 质量验证 发射光 非对称 电源系统 调制信号 干扰状态 潜在干扰 驱动电路 驱动芯片 分析 干扰源 主芯片 环节 验证 | ||
【主权项】：
1.一种10G EPON非对称ONU发射光眼图质量验证方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：分析干扰源以及干扰方式；S2：分析潜在干扰产生环节，包括BOB驱动电路电源系统、BOSA器件和主芯片到驱动芯片的调制信号；S3：针对S2各环节设置实验，验证干扰状态。
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