[发明专利]基于双DMD的single-shot叠层相位恢复技术在审

专利信息
申请号: 201910044662.1 申请日: 2019-01-17
公开(公告)号: CN109903370A 公开(公告)日: 2019-06-18
发明(设计)人: 王伟波;李勇;刘俭;李季学;刘鹏飞 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00;G06T11/00;G02B26/08;G02B26/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150001 黑*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种基于双DMD的single‑shot叠层相位恢复技术,属于相位恢复成像领域。本发明解决了传统叠层相位恢复技术需要扫描物体的问题。本发明首先在样品之前放置两个DMD;然后配合开关这两个DMD上的微镜并利用准直相干光照明,当两个DMD对应的微镜都是开状态时光经过全开微镜反射在物体上,被探测器接收;再次,联合更换双DMD微镜的开关状态,照明样品不同的部位被探测器接收;最后通过相位恢复算法恢复样品的复振幅。本发明可以无需机械扫描实现叠层相位恢复。
搜索关键词: 叠层 相位恢复技术 微镜 相位恢复 探测器 相位恢复算法 成像领域 机械扫描 开关状态 扫描物体 照明样品 复振幅 开状态 相干 全开 准直 反射 光照 配合 恢复 联合
【主权项】:
1.一种基于双DMD的single‑shot叠层相位恢复技术,其特征在于,包括以下步骤:步骤a、首先根据图1所示搭建实验设备;步骤b、激光照射在DMD1上,其中一部分DMD1上的微镜为开状态并且转动一定角度,DMD2上对应的微镜转动相应的角度保证出射到物体的激光为准直的,并用探测器接收;步骤c、改变DMD1和2上不同微镜的开关状态及转动角度,照射物体不同部分,利用探测器接收;步骤d、使用传统的相位恢复算法恢复出物体的复振幅。
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