[发明专利]基于偏最小二乘回归法的绝缘子污秽等值盐密检测方法在审
| 申请号： | 201910044896.6 | 申请日： | 2019-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN109612947A | 公开（公告）日： | 2019-04-12 |
| 发明（设计）人： | 吴广宁;邱彦;郭裕钧;张血琴;刘凯;肖章;石超群;康永强;刘毅杰 | 申请（专利权）人： | 西南交通大学 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 | 代理人： | 陈选中 |
| 地址： | 610031*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于偏最小二乘回归法的绝缘子污秽等值盐密检测方法，包括如下步骤：S1：获取污秽绝缘子的高光谱图像，进行预处理，并分为第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；S2：获取第一高光谱图像集对应的污秽绝缘子各局部区域的等值盐密，并提取第一高光谱图像集中积污绝缘子的高光谱谱线，根据污秽绝缘子的等值盐密和对应的高光谱谱线，获取优化等值盐密检测模型；S3：提取第二高光谱图像集中积污绝缘子各局部区域的高光谱谱线，并将其输入优化等值盐密检测模型，获取第二高光谱图像集对应污秽绝缘子各局部区域的等值盐密；本发明解决现有技术存在的操作过程繁琐、耗费人力物力以及在测量过程中易造成误差的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 高光谱图像 等值盐密 污秽绝缘子 局部区域 高光谱 谱线 绝缘子 偏最小二乘回归法 检测 绝缘子污秽 预处理 操作过程 测量过程 人力物力 优化 | ||
【主权项】：
1.一种基于偏最小二乘回归法的绝缘子污秽等值盐密检测方法，其特征在于，包括如下步骤：S1：获取污秽绝缘子的高光谱图像，进行高光谱图像的预处理，并将所有预处理后的高光谱图像分为第一高光谱图像集和第二高光谱图像集；S2：获取第一高光谱图像集对应的污秽绝缘子各局部区域的等值盐密，并提取第一高光谱图像集中积污绝缘子的高光谱谱线，根据污秽绝缘子的等值盐密和对应的高光谱谱线，使用偏最小二乘回归法，获取优化等值盐密检测模型；S3：提取第二高光谱图像集中积污绝缘子各局部区域的高光谱谱线，并将其输入优化等值盐密检测模型，获取第二高光谱图像集对应污秽绝缘子各局部区域的等值盐密。
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