[发明专利]复合量子点比率荧光探针对银离子的灵敏选择性检测方法

摘要

本发明公开了一种复合量子点比率荧光探针对银离子的灵敏选择性检测方法。在比色管中依次加入磷酸钠缓冲溶液、CQDs溶液、表面修饰N‑乙酰‑L‑半胱氨酸的CdTe QDs溶液以及样品；然后用高纯水稀释至比色管标线并摇匀得到混合溶液，再将混合溶液放置于室温下静置；之后，将混合溶液置于比色池中在350nm激发波长下，测定在441nm和608nm处的荧光强度值；最后根据线性方程换算得到样品中银离子的含量。该方法不仅简便灵敏，而且选择性高。

主权项

1.一种复合量子点比率荧光探针对银离子的灵敏选择性检测方法，其特征在于，包括以下步骤：在样品比色管和系列浓度标准溶液比色管中分别依次加入磷酸钠缓冲溶液、CQDs溶液、表面修饰N‑乙酰‑L‑半胱氨酸的CdTe QDs溶液，然后向样品比色管中加入待测样品，向不同的系列浓度标准溶液比色管中加入不同浓度的Ag⁺离子标准溶液；用高纯水将上述比色管各自稀释至标线并摇匀得到混合溶液，再将混合溶液于室温下静置；之后分别将各比色管混合溶液置于比色池中，在激发波长下测得各比色管中混合溶液在608nm和441nm处的荧光强度比值I₆₀₈/I₄₄₁；根据log[(I₆₀₈/I₄₄₁)₀/(I₆₀₈/I₄₄₁)]与银离子浓度的线性关系，结合标准曲线得到样品中银离子的含量，其中(I₆₀₈/I₄₄₁)₀为不含银离子的混合溶液在608nm和441nm处的荧光强度比值。