[发明专利]用于分析对象的组分的装置和方法以及图像传感器在审
| 申请号： | 201910047099.3 | 申请日： | 2019-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN110793924A | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 张炯硕;文铉晳;沈载旭;严槿鍹;郑明薰 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/31 | 分类号： | G01N21/31;G01N21/47;G01N21/84 |
| 代理公司： | 11021 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 范心田 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 提供了一种用于分析对象的组分的方法和装置。该装置包括图像传感器，该图像传感器包括光学模块，并且该光学模块包括：光源，被配置为发射源光；第一检测器，被配置为检测第一光，所述第一光从入射有所发射的源光的对象散射或反射；以及第二检测器，被配置为检测第二光，所述第二光由光源发射但未入射在对象上。该装置还包括处理器，该处理器被配置为：基于检测到的第一光和检测到的第二光来计算散射系数和吸收系数；以及基于所计算的散射系数和所计算的吸收系数来分析对象的组分。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 图像传感器 分析对象 光学模块 散射系数 吸收系数 配置 处理器 入射 第二检测器 第一检测器 方法和装置 光源发射 发射源 散射 源光 反射 光源 发射 | ||
【主权项】：
1.一种用于分析对象的组分的装置，所述装置包括：/n图像传感器，包括光学模块，其中，所述光学模块包括：/n光源，被配置为发射源光；/n第一检测器，被配置为检测第一光，所述第一光从入射有所发射的源光的对象散射或反射；以及/n第二检测器，被配置为检测第二光，所述第二光由所述光源发射但未入射在所述对象上；以及/n处理器，被配置为：/n基于检测到的第一光和检测到的第二光，计算散射系数和吸收系数；以及/n基于所计算的散射系数和所计算的吸收系数，分析所述对象的组分。/n
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