[发明专利]一种二硒化钨薄片/氧化锌纳米带结型场效应晶体管光电探测器及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910049102.5 申请日: 2019-01-18
公开(公告)号: CN109817757B 公开(公告)日: 2021-02-05
发明(设计)人: 郭楠;贾怡;常慧聪;肖林 申请(专利权)人: 中国空间技术研究院
主分类号: H01L31/112 分类号: H01L31/112;H01L31/0392;H01L31/0296;H01L31/18
代理公司: 中国航天科技专利中心 11009 代理人: 张丽娜
地址: 100194 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种二硒化钨薄片/氧化锌纳米带结型场效应晶体管光电探测器及其制备方法,该光电探测器为纳米材料结型场效应晶体管光电探测器,具体是指将p型的二硒化钨(WSe2)薄片和n型的氧化锌(ZnO)纳米带接触形成p‑n结,同时WSe2薄片作为感光材料连接在顶栅电极与ZnO纳米带导电沟道之间。WSe2薄片受光激发产生光生载流子形成导电通道,顶栅电压通过该导电通道施加到p‑n结处,调节ZnO纳米带中耗尽区的宽度来实现沟道电导的调节,提高器件的光增益和响应速度。
搜索关键词: 一种 二硒化钨 薄片 氧化锌 纳米 带结型 场效应 晶体管 光电 探测器 及其 制备 方法
【主权项】:
1.一种二硒化钨薄片/氧化锌纳米带结型场效应晶体管光电探测器,其特征在于:该光电探测器包括ZnO纳米带、WSe2薄片、Si/SiO2衬底、源电极、漏电极和顶栅电极;所述的ZnO纳米带、WSe2薄片、源电极、漏电极、顶栅电极均位于Si/SiO2衬底上,ZnO纳米带的一端与源电极相连,ZnO纳米带的另一端与漏电极相连;WSe2薄片的一端压在ZnO纳米带上,另一端压在顶栅电极上。
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