[发明专利]电磁抗干扰性能测试系统有效

专利信息
申请号: 201910050519.3 申请日: 2019-01-21
公开(公告)号: CN109507488B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 付伐;娄建明 申请(专利权)人: 武汉裕量信息科技有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430074 湖北省武汉市东湖高新*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开一种检测被测物对电磁的抗干扰性能的测试系统以及检测终端。采用本发明的测试系统,可以全自动化的实现电子产品的电磁的抗干扰性能,而无需手动从浩瀚如烟的众多标准中选择正确的检测标准。检测结论的得出不仅仅基于本地检测数据以及被测物的检测数据,还和云端数据库进行对照才能得出,将测试结果输出端输出的被测物的检测结果上传至所述电子产品检测数据库后,所述电子产品检测数据库基于接收到的检测结果以及与所述基本信息匹配的已测电子产品的已有检测结果生成检索报告。
搜索关键词: 电磁 抗干扰 性能 测试 系统
【主权项】:
1.一种检测被测物对电磁的抗干扰性能的测试系统,所述系统包括:基本信息录入端,用于录入被测物的基本信息;检测标准输出端,用于输出至少一个检测标准;检测数据采集端,用于基于所述检测标准,对被测物进行检测数据采集;测试结果输出端,用于读取所述检测数据并计算检测结果;其特征在于:所述测试系统双向连接电子产品检测数据库,所述电子产品检测数据库存储多个已测电子产品的已有检测结果;所述测试系统还包括标准检索模块,所述标准检索模块基于被测物的基本信息,在所述电子产品检测数据库检索与所述基本信息匹配的已测电子产品的已有检测结果;根据所述已有检测结果,确定被测物的检测标准。
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