[发明专利]一种IGBT温升和热阻构成测试装置和方法

摘要

一种IGBT温升和热阻构成测试装置和方法属于IGBT可靠性设计和测试领域。本发明设计了通过采集IGBT集电极‑发射极寄生二极管在小电流下压降获得IGBT热阻构成的测试装置与相应热阻构成测试方法。解决了现有的功率MOS热阻测试仪，通过采集MOS反向寄生二极管的参数提取被测器件热阻的方法用于IGBT测量时，受IGBT拖尾电流影响，难以做到快速切换的问题。

主权项

1.一种IGBT温升和热阻构成测试装置，由恒温平台、控制中心、加热电源、加热电源开关、栅极驱动、测试电流源、工作电压电流采集单元构成，其特征在于：被测IGBT放置在可调温度的恒温平台上；连接好被测IGBT的栅极、集电极、发射极导线，计算机和FPGA配合作为控制中心，完成时序控制；计算机搭载人机交互界面；计算机与FPGA单元通过通讯接口或共用的存储器实现数据的交互传输；加热电源的输出电流通过导线连接依次经过加热电源开关、工作电压电流采集单元、被测IGBT的集电极和发射极，最后流至地面；控制中心控制测试电流源输出的测试电流，该测试电流通过同轴线接至加热电源开关与工作电压电流采集单元之间或直接通过同轴线接至被测IGBT的集电极；测量时，控制中心发出指令，测试电流源产生与测量被测IGBT的温度系数相同的测试电流，接入被测IGBT的集电极和发射极两端，控制中心通过时序信号与DA参数设置控制栅极驱动，栅极驱动的输出端连接到IGBT的栅极。