[发明专利]对强激光装置系统中小尺度自聚焦进行表征及评价的方法在审
| 申请号： | 201910053700.X | 申请日： | 2019-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN109507797A | 公开（公告）日： | 2019-03-22 |
| 发明（设计）人： | 黄小霞;邓学伟;周维;胡东霞;王芳;郭怀文;王渊承;赵博望;邓武;钟伟;杨英;王德恩;张鑫 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G02B27/00 | 分类号： | G02B27/00;G02F1/35 |
| 代理公司： | 北京远大卓悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11369 | 代理人： | 贾晓燕 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种对强激光装置系统中小尺度自聚焦进行表征及评价的方法，根据激光束发生小尺度自聚焦后其近场空间频率分布会发生变化，所述表征及评价方法包括：S1，采用PSD表征量对近场进行频谱分析，以得到对应的PSD曲线；S2，依据香农熵的特点，将PSD曲线进行香农熵计算，获得对应的PSD熵表征曲线；S3，根据PSD熵表征曲线中出现的拐点，进而确定小尺度自聚焦开始快速增长的阈值。本发明的表征及评价方法能准确、直观、清楚地表征小尺度自聚焦开始快速增长的拐点。 | ||
| 搜索关键词： | 自聚焦 小尺度 强激光装置 表征曲线 拐点 近场 尺度 空间频率 频谱分析 表征量 激光束 地表 直观 | ||
【主权项】：
1.一种对强激光装置系统中小尺度自聚焦进行表征的方法，其特征在于，根据激光束发生小尺度自聚焦后其近场空间频率分布会发生变化，所述表征方法包括：S1，采用PSD表征量对近场进行频谱分析，以得到对应的PSD曲线；S2，依据香农熵的特点，将PSD曲线进行香农熵计算，获得对应的PSD熵表征曲线。
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