[发明专利]保护装置有效
申请号: | 201910058084.7 | 申请日: | 2012-12-17 |
公开(公告)号: | CN110086144B | 公开(公告)日: | 2021-05-18 |
发明(设计)人: | 莲沼贵司;田中新;铃木克彰;大平雅之 | 申请(专利权)人: | 力特电子(日本)有限责任公司 |
主分类号: | H02H3/08 | 分类号: | H02H3/08 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 王益 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种保护装置,其包括PTC构件和并联到PTC构件的第一非可重置接触构件,第二非可重置接触构件串联到PTC构件,并且当PTC构件基于断开第一非可重置接触构件的触点而转向的电流跳断时,第二非可重置接触构件的触点由于PTC构件生成的热量断开。 | ||
搜索关键词: | 保护装置 | ||
【主权项】:
1.一种保护装置,包括:PTC构件;第一非可重置接触构件,所述第一非可重置接触构件电气并联到PTC构件;和第二非可重置接触构件,所述第二非可重置接触构件电气串联到PTC构件,并且所述第二非可重置接触构件电气并联到所述第一非可重置接触构件;其中,当PTC构件基于通过断开所述第一非可重置接触构件的触点而转向的电流跳断时,所述第二非可重置接触构件的触点由于PTC构件生成的热而被断开;所述第一非可重置接触构件和所述第二非可重置接触构件各自独立地选自包括熔丝构件和双金属构件的组中;所述双金属构件被要求其重置的温度低于所述保护装置的可应用温度范围;和一旦所述双金属构件断开电路,只要所述保护装置在所述可应用温度范围中使用,触点的断开状态被保持。
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