[发明专利]一种适用于斜入式激光干涉测量镜头成像畸变的标定方法有效
| 申请号： | 201910058504.1 | 申请日： | 2019-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN109887037B | 公开（公告）日： | 2023-03-14 |
| 发明（设计）人： | 杨鹏程;杨社强;肖渊;张蒙蒙;戴雨志 | 申请（专利权）人： | 西安工程大学 |
| 主分类号： | G06T7/80 | 分类号： | G06T7/80;G06T7/33 |
| 代理公司： | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人： | 宁文涛 |
| 地址： | 710048 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明的一种适用于斜入式激光干涉测量镜头成像畸变的标定方法，具体步骤包括：首先建立平板金属被测面的数学模型；通过建立的数学模型，利用光路光线追迹计算的仿真方法得到平板金属被测面的仿真干涉图像；利用激光干涉测量系统采集平板金属被测面的实测图像；通过分别将得到的平板金属被测面仿真干涉图像与平板金属被测面实测图像进行比较，建立斜入式激光干涉测量中镜头成像畸变的标定方法，弥补了当前斜入式激光干涉测量系统中无直接可用的镜头成像畸变校正方法的不足。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 适用于 斜入式 激光 干涉 测量 镜头 成像 畸变 标定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种适用于斜入式激光干涉测量镜头成像畸变的标定方法，其特征在于，具体步骤如下：步骤1，建立平板金属被测面的数学模型；步骤2，通过步骤1建立的数学模型，利用光路光线追迹计算的仿真方法得到平板金属被测面的仿真干涉图像；步骤3，利用激光干涉测量系统采集平板金属被测面的实测干涉图像；步骤4，通过分别将步骤2与步骤3得到的平板金属被测面仿真干涉图像与平板金属被测面实测干涉图像进行比较，建立斜入式激光干涉测量中镜头成像畸变的标定方法。
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