[发明专利]试样测定系统及试样测定方法在审

专利信息
申请号: 201910058624.1 申请日: 2019-01-22
公开(公告)号: CN110095620A 公开(公告)日: 2019-08-06
发明(设计)人: 小竹宏纪;吉村健治;渡边雄治;芝正树 申请(专利权)人: 希森美康株式会社
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N15/14
代理公司: 北京市安伦律师事务所 11339 代理人: 杨永波;韩景漫
地址: 日本兵库县神户市*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及一种试样测定系统,能够将在数个测定单元产生的废弃物废弃至通用的废弃部,且抑制由于废弃物的废弃处理而导致的测定单元之间的作业干扰。该试样测定系统(100)具备测定试样的第1测定单元(10)和第2测定单元(20)、储存从第1测定单元(10)和第2测定单元(20)产生的废弃物GB的通用的废弃部(50)。第1测定单元(10)包括用于排出在第1测定单元(10)产生的废弃物GB的与废弃部(50)连接的第1废弃口(11)。第2测定单元(20)包括用于排出在第2测定单元(20)产生的废弃物GB的与废弃部(50)连接的第2废弃口(21)。
搜索关键词: 测定单元 废弃 废弃物 试样测定 通用的 排出 废弃处理 储存
【主权项】:
1.一种试样测定系统,包括:测定试样的第1测定单元和第2测定单元,用于储存从所述第1测定单元和所述第2测定单元产生的废弃物的通用的废弃部,其中,所述第1测定单元包括用于排出在所述第1测定单元产生的废弃物的与所述废弃部连接的第1废弃口,所述第2测定单元包括用于排出在所述第2测定单元产生的废弃物的与所述废弃部连接的第2废弃口。
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