[发明专利]半导体存储器件、存储系统及操作半导体存储器件的方法

摘要

提供了半导体存储器件、存储系统及操作半导体存储器件的方法。所述半导体存储器件包括：存储单元阵列，包括多个动态存储单元；ECC引擎，被配置为对来自存储单元阵列的读取数据中的至少一个错误进行纠正；以及测试电路，被配置为在半导体存储器件的测试模式下，通过将测试模式数据写入存储单元阵列中并通过从存储单元阵列读取与测试模式数据对应的测试结果数据，来对存储单元阵列执行测试。测试电路被配置为：在测试模式下，当测试结果数据包括第一数目的至少一个错误位时，将指示第三数目的错误位的测试结果信号输出到半导体存储器件的外部，第三数目是通过将第一数目减去第二数目获得的。第二数目对应于ECC引擎能够纠正的错误位的数目。