[发明专利]一种测控布站方案综合量化评估方法有效

专利信息
申请号: 201910063719.2 申请日: 2019-01-23
公开(公告)号: CN109814405B 公开(公告)日: 2021-10-01
发明(设计)人: 曹锐;顾祥龙;杨耀东;张智香;周鑫;杨洒情;刘佰鑫;王俊杰;张娅;颜陆红 申请(专利权)人: 中国人民解放军63653部队
主分类号: G05B17/02 分类号: G05B17/02
代理公司: 中国兵器工业集团公司专利中心 11011 代理人: 刘瑞东
地址: 841700 新疆维吾尔*** 国省代码: 新疆;65
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摘要: 发明属于飞行器测控领域,具体涉及一种测控布站方案综合量化评估方法,包括步骤确定测控布站方案的仿真输入参数;对步骤S1的测控布站方案进行布站性能仿真,包括跟踪覆盖性仿真和跟踪质量仿真;制定测控布站方案综合量化评估策略,确定评估参数;对测控布站方案进行量化评估。本发明测控布站性能更优,解决了当前多套测控设备同时布站的一般靶场飞行任务,没有一种综合量化评估方法的问题。
搜索关键词: 一种 测控 方案 综合 量化 评估 方法
【主权项】:
1.一种测控布站方案综合量化评估方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、确定测控布站方案的仿真输入参数;S2、对步骤S1的测控布站方案进行布站性能仿真,包括跟踪覆盖性仿真和跟踪质量仿真;S3、制定测控布站方案综合量化评估策略,确定评估参数;S31、确定跟踪覆盖性评估权值pco和跟踪质量评估权值pqu,并且pco+pqu=1;S32、根据任务测控对象特点描述其对外测、遥测、光测的依赖程度,从而确定外测、遥测、光测的评估权值Pw、Py、Pg;其中,跟踪覆盖性评估权值Pcw、Pcy、Pcg,并且Pcw+Pcy+Pcg=1;跟踪质量评估权值Pqw、Pqy、Pqg,且Pqw+Pqy+Pqg=1;S33、在跟踪质量评估中,根据同一类各台设备所在位置,以及任务对不同航段的重视程度,确定每台设备的权重Pwi、Pyi、Pgi,并且Nw,Ny,Ng为外测、遥测、光测所包扩的设备数量;S34、分别确定外测、遥测、光测的测量误差、计算太阳照射夹角和电波传播余隙的评估权值per、psa、pgp,且per+psa+pgp=1;S4、对测控布站方案进行量化评估:S41,对于跟踪覆盖性评估:外测、遥测、光测的跟踪覆盖性评分Scw、Scy、Scg使用如下公式计算:其中,nci为任务航线上的某点被同时覆盖的某类设备数量,下标i为任务航线离散点编号值,N为任务航线离散总点数,Ns为参加任务某类设备的总数量。S42,对于跟踪质量评估:S421,外测、遥测、光测中每一台设备的跟踪质量评分Sqwi、Sqyi、Sqgi使用如下公式计算:其中,下标j为任务航线离散点编号值,N为任务航线离散总点数,verj、vsaj分别为单台设备在任务航线上某点测量误差和太阳照射夹角仿真值,其中verj为归一化处理后的测量误差,vsar为太阳照射夹角的参考门限值,在仿真前根据任务需求设定,Gjk为电波传播余隙因子,值为0或1,Mj为每条电波传播余隙路径离散点数;S422,计算出单台设备的得分,再根据以下公式计算外测、遥测、光测的跟踪质量评估得分:S43,对测控布站方案进行综合评估:S431,踪覆盖性评估、跟踪质量评估评分Sco、Squ使用如下公式计算:S432,测控布站方案综合评估得分S计算公式为:S=Sco·Pco+Squ·Pqu
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