[发明专利]用于波谱寻址测调的FP波谱结构、制备方法和光学显微镜在审
| 申请号： | 201910065425.3 | 申请日： | 2019-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN109752323A | 公开（公告）日： | 2019-05-14 |
| 发明（设计）人： | 张新宇;张汤安苏 | 申请（专利权）人： | 南京奥谱依电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25;G02F1/1343;G02F1/1337 |
| 代理公司： | 武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙) 42233 | 代理人： | 宋业斌 |
| 地址： | 210019 江苏省南京市建邺区江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于波谱寻址测调的FP波谱结构用于显微成像测量，包括从上至下依次平行设置的第一增透膜、第一基片、图案电极、第一液晶定向层、液晶层、第二液晶定向层、公共电极、第二基片、以及第二增透膜，图案电极和公共电极彼此同心设置，且二者同时用作高反射膜，其均是由金属材料制成；图案电极包括多个以对称方式排列的矩形子电极，各个矩形子电极之间是电绝缘的；各个矩形子电极通过各自的电连接线从图案电极引出，并与从公共电极引出的电连接线一起，分别连接到各个外部控制信号的两端。本发明具有谱显微成像效能高、目标和光场适应性好、体积和质量小、易与其它光学光电机械结构耦合的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 图案电极 公共电极 子电极 液晶定向层 波谱结构 电连接线 显微成像 增透膜 波谱 寻址 外部控制信号 光学显微镜 金属材料 从上至下 对称方式 高反射膜 光电机械 结构耦合 平行设置 同心设置 电绝缘 液晶层 光场 制备 测量 | ||
【主权项】：
1.一种用于波谱寻址测调的FP波谱结构，包括从上至下依次平行设置的第一增透膜、第一基片、图案电极、第一液晶定向层、液晶层、第二液晶定向层、公共电极、第二基片、以及第二增透膜，其特征在于，图案电极和公共电极彼此同心设置，且二者同时用作高反射膜，其均是由金属材料制成；图案电极包括多个以对称方式排列的矩形子电极，各个矩形子电极之间是电绝缘的；各个矩形子电极通过各自的电连接线从图案电极引出，并与从公共电极引出的电连接线一起，分别连接到各个外部控制信号Uk的两端，用于在所述液晶微镜被接入光路从而形成光学显微镜时，实现以可寻址方式测量和调节波谱，其中k∈(1，p)，p表示图案电极中矩形子电极的个数。
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