[发明专利]一种基于有限点离散频谱校正的频率测量方法有效

专利信息
申请号: 201910065988.2 申请日: 2019-01-24
公开(公告)号: CN109738697B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 曹旭源;顾杰;郑坤;尹鑫 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
主分类号: G01R23/02 分类号: G01R23/02;G01R35/00
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 夏琴;钱成岑
地址: 610036 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及信号参数测量领域,公开了一种基于有限点离散频谱校正的频率测量方法。包括:在频率测量电路中注入中频信号,记录每次注入的中频信号频点,采集每次一次校正电路的频载位置初步信息,并转换为测量的频率值;根据测量的频率值与注入的频率值,获得频率误差曲线;采用分段线性拟合算法用解析表达式拟合频率误差曲线;根据拟合后的频率误差曲线,对频载位置进行二次校正。本发明的技术方案在一次频谱校正的基础上,基于拟合的误差曲线,对频载位置进行二次校正,进一步缩小了频谱位置估计的误差范围;本发明的技术方案采用并行、流水化处理算法大大缩短了对信号载频信息的测量时间,具备对多信号的实时处理能力。
搜索关键词: 一种 基于 有限 离散 频谱 校正 频率 测量方法
【主权项】:
1.一种基于有限点离散频谱校正的频率测量方法,其特征在于,具体包括以下过程:步骤1,在频率测量电路中注入中频信号,记录每次注入的中频信号频点,采集每次一次校正电路的频载位置初步信息,并转换为测量的频率值;步骤2,根据测量的频率值与注入的频率值,获得频率误差曲线;步骤3,采用分段线性拟合算法用解析表达式拟合频率误差曲线;步骤4,根据拟合后的频率误差曲线,对频载位置进行二次校正。
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