[发明专利]一种磁共振B0场图测量方法有效
| 申请号： | 201910069305.0 | 申请日： | 2019-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN109793518B | 公开（公告）日： | 2022-08-26 |
| 发明（设计）人： | 罗海;彭非;周翔;朱高杰;王超;陈梅泞;吕蓓;吴子岳 | 申请（专利权）人： | 奥泰医疗系统有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B5/055 | 分类号： | A61B5/055 |
| 代理公司： | 成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 | 代理人： | 曾克;李晓英 |
| 地址： | 611731 四川省*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种磁共振B0场图测量方法，首先拟合出无相位卷褶的低阶场，接着从原始B0场图中减去拟合出的低阶场，从而分离出无相位卷褶的高阶场；最后将将拟合的低阶场和剩余的高阶场相加，得到无相位卷褶的相位图，由无相位卷褶的相位图计算得到B0场图。本发明能有效去除相位卷褶，利于正确的反映B0场信息；且运算量小，计算效率高。尤其适用于3维B0场图的处理。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 磁共振 b0 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种磁共振B0场图测量方法，其特征在于:包括以下步骤；步骤1，拟合出无相位卷褶的低阶场；步骤2，从原始B0场图中减去拟合出的低阶场，分离出无相位卷褶的高阶场；步骤3，将拟合的低阶场和剩余的高阶场相加，得到无相位卷褶的相位图，由无相位卷褶的相位图计算得到B0场图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于奥泰医疗系统有限责任公司，未经奥泰医疗系统有限责任公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910069305.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
