[发明专利]一种制作超小型磁性随机存储器阵列的方法有效
申请号: | 201910079448.X | 申请日: | 2019-01-28 |
公开(公告)号: | CN111490151B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 张云森;郭一民;陈峻;肖荣福 | 申请(专利权)人: | 上海磁宇信息科技有限公司 |
主分类号: | H10N50/10 | 分类号: | H10N50/10;H10N50/01;H10B61/00 |
代理公司: | 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 | 代理人: | 于晓菁 |
地址: | 201815 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种制作超小型磁性随机存储器阵列的方法:在基底上沉积底电极、磁性隧道结(MTJ)、硬掩模和牺牲掩模各膜层;图形化定义MTJ图案,选择性横向缩微硬掩模和牺牲掩模;刻蚀MTJ直到底电极之上并维持少量过刻蚀;沉积绝缘层,并使底电极刻蚀前端和牺牲掩模顶部绝缘层厚度大于MTJ和硬掩模侧壁绝缘层厚度;对MTJ侧壁进行修剪;沉积底电极刻蚀用自对准掩模;刻蚀底电极;覆盖绝缘覆盖层,填充电介质并磨平。本发明在刻蚀MTJ和底电极时采用两次刻蚀,有效降低了阴影效应,另外在硬掩模刻蚀后,增加横向修剪工艺,使得后续底电极刻蚀前端和牺牲掩模顶端沉积绝缘层厚度大于MTJ和硬掩模侧壁绝缘层厚度,大大提升修剪效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 制作 超小型 磁性 随机 存储器 阵列 方法 | ||
【主权项】:
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