[发明专利]太赫兹波分光测量装置有效
| 申请号： | 201910081149.X | 申请日： | 2019-01-28 |
| 公开（公告）号： | CN110095430B | 公开（公告）日： | 2023-06-30 |
| 发明（设计）人： | 中西笃司;藤田和上;堀田和希 | 申请（专利权）人： | 浜松光子学株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/3581 | 分类号： | G01N21/3581;G01N21/359;G01N21/35;G01N21/31 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 杨琦 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 太赫兹波分光测量装置包括：光源，出射太赫兹波和具有与太赫兹波不同的波长的探测光；内部全反射棱镜，具有太赫兹波的入射面、载置被测定物的载置面以及太赫兹波的出射面，使从入射面入射的太赫兹波在载置面被内部全反射并从出射面出射；以及太赫兹波检测部，使用探测光间接地检测从出射面出射的太赫兹波。内部全反射棱镜具有避免探测光入射到载置面上的被测定物的回避部。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 分光 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种太赫兹波分光测量装置，其中，包括：光源，出射太赫兹波和具有与所述太赫兹波不同的波长的探测光；内部全反射棱镜，具有所述太赫兹波的入射面、载置被测定物的载置面、以及所述太赫兹波的出射面，使从所述入射面入射的太赫兹波在所述载置面被内部全反射并从所述出射面出射；以及太赫兹波检测部，使用所述探测光间接地检测从所述出射面出射的所述太赫兹波，所述内部全反射棱镜具有避免所述探测光入射到所述载置面上的所述被测定物的回避部。
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