[发明专利]一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统有效

专利信息
申请号: 201910082491.1 申请日: 2019-01-28
公开(公告)号: CN109737888B 公开(公告)日: 2020-10-16
发明(设计)人: 杨忠明;张禹;刘兆军;何伟林 申请(专利权)人: 山东大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/02
代理公司: 济南金迪知识产权代理有限公司 37219 代理人: 许德山
地址: 250199 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明涉及一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统,本发明采用锥形光纤产生高质量的大数值孔径测试波前和参考波前,在参考光路和测试光路分别使用旋转对称光栅、动态反射镜定量的补偿光学自由曲面中的像差成分,实现自由曲面的零位测量,通过解调干涉图得到自由曲面的面形误差。
搜索关键词: 一种 数值孔径 光学 自由 曲面 衍射 零位 干涉 检测 系统
【主权项】:
1.一种大数值孔径光学自由曲面点衍射零位干涉检测系统,其特征在于,包括激光器、第一半波片、第二半波片、四分之一波片、第三半波片、第一偏振分光镜、反射镜、PZT移相器、第一光纤耦合器、第二光纤耦合器、第一光纤、第二光纤、第一分光镜、CGH、待测自由曲面、第一离轴抛物面反射镜、第二分光镜、第二离轴抛物面反射镜、变形镜、第三离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器;激光器、第一半波片、第一偏振分光镜、四分之一波片、反射镜、PZT移相器依次设置;激光器发出的线偏振光依次经过第一半波片、第一偏振分光镜、第三半波片、第二光纤耦合器、第二光纤、第一分光镜、CGH、待测自由曲面、CGH、第一离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器,构成测试光路;激光器发出的线偏振光依次经过第一半波片、第一偏振分光镜、第二半波片、第一光纤耦合器、第一光纤、第二分光镜、第二离轴抛物面反射镜、变形镜、第二离轴抛物面反射镜、第二分光镜、第三离轴抛物面反射镜、第二偏振分光镜、成像透镜组、CCD探测器,构成参考光路;激光器发出的线偏振光先经过第一半波片,然后经过第一偏振分光镜分成S光和P光;S光经过第一偏振分光镜反射,经过第三半波片,通过第三半波片的旋转角度调节光的偏振方向,再经过第二光纤耦合器进入第二光纤,衍射出标准的球面光,球面光作为测试光,测试光经第一分光镜反射后,经过CGH生成像散波,像散波经过待测自由曲面反射后,再次经过CGH,测试波经过第一离轴抛物面反射镜准直后入射到第二偏振分光镜,入射到成像透镜组;P光经第一偏振分光镜透射,经过四分之一波片,到达由PZT移相器驱动的反射镜返回,再次经过四分之一波片,到达第一偏振分光镜反射出的光为S光,再经过第二半波片后,由第一光纤耦合器耦合进入第二光纤,衍射光波作为参考光;参考光经第二分光镜反射后,经第二离轴抛物面反射镜准直,准直光入射到变形镜,经变形镜反射后,携带待测自由曲面面形中的剩余高阶像差成分,参考光再次经过第二离轴抛物面反射镜、经第三离轴抛物面反射镜反射后,入射到第二偏振分光镜,与测试光合束后进入成像透镜组,参考光与测试光发生干涉,被CCD探测器接收,通过解调干涉图得到被测自由曲面的面形误差。
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