[发明专利]用于寄生参数提取的添加的版图单元及寄生参数提取方法在审

专利信息
申请号: 201910092784.8 申请日: 2019-01-30
公开(公告)号: CN109583150A 公开(公告)日: 2019-04-05
发明(设计)人: 闫星臣;任丛飞;郭美兴;郭俊彦 申请(专利权)人: 贵州华芯通半导体技术有限公司
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 万里晴
地址: 550081 贵州省贵阳市*** 国省代码: 贵州;52
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摘要: 提供了用于提取标准单元的寄生参数的添加的版图单元和方法,其中添加的版图单元被设置于待提取标准单元周围用于模拟待提取标准单元的周围布线环境,添加的版图单元包括:上部,与待提取标准单元的上侧相连接;下部,与待提取标准单元的下侧相连接;左部,与待提取标准单元的左侧相连接;和右部,与待提取标准单元的右侧相连接,其中上部、下部、左部、右部均为矩形,且上部或下部的长度等于左部长度、右部长度及待提取标准单元长度之和;上部、下部、左部、右部的高度均相同且均为待提取标准单元的高度;待提取标准单元的左侧和右侧到添加的版图单元的N型阱区的距离均大于或等于第一预定距离,且N型阱区的高度与待提取标准单元的高度相同。
搜索关键词: 标准单元 版图单元 右部 左部 寄生参数提取 侧相 布线环境 寄生参数 预定距离
【主权项】:
1.一种用于提取标准单元的寄生参数的添加的版图单元,所述添加的版图单元被设置于待提取标准单元周围用于模拟所述待提取标准单元的周围布线环境,其中,所述添加的版图单元包括:上部,所述上部与待提取标准单元的上侧相连接;下部,所述下部与待提取标准单元的下侧相连接;左部,所述左部与待提取标准单元的左侧相连接;和右部,所述右部与待提取标准单元的右侧相连接,其中所述上部、下部、左部、右部均为矩形,且所述上部或下部的长度等于所述左部长度、右部长度及所述待提取标准单元长度之和;所述上部、下部、左部、右部的高度均相同且均为待提取标准单元的高度;所述待提取标准单元的左侧和右侧到所述版图单元的N型阱区的距离均大于或等于第一预定距离,其中所述N型阱区的高度与所述待提取标准单元的高度相同。
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