[发明专利]一种用于SERF陀螺仪双波片耦合探测光调制检测系统及方法有效
| 申请号： | 201910094885.9 | 申请日： | 2019-01-31 |
| 公开（公告）号： | CN109737945B | 公开（公告）日： | 2021-04-13 |
| 发明（设计）人： | 秦亮;王巍;石猛;王天顺;秦德鑫;霍娟;王风娇;李新坤;王学锋 | 申请（专利权）人： | 北京航天控制仪器研究所 |
| 主分类号： | G01C19/58 | 分类号： | G01C19/58 |
| 代理公司： | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人： | 马全亮 |
| 地址： | 100854 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于SERF陀螺仪双波片耦合探测光调制检测系统及方法。SERF陀螺仪信号检测通常为对经过碱金属气室线偏振光光旋角的检测。在使用电光调制器实现光旋角信号调制检测过程中，需要对电光调制器和λ/4波片装配角度精确的满足一定要求。本发明通过设计正交双λ/4波片耦合电光调制器光路，实现对探测光光旋角的调制检测，保证光旋角检测信号的信噪比。解决了调制光路中电光调制器和λ/4波片装配方位角精确控制以及探测光解调信号零位工作点调整的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 serf 陀螺仪 双波片 耦合 探测 调制 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于SERF陀螺仪双波片耦合探测光调制检测系统，其特征在于包括：激光器(1)、λ/2波片(2)、功率稳定器(3)、第一λ/4波片(4)、电光调制器(5)、第二λ/4波片(6)、碱金属气室(7)、检偏器(8)以及光电探测器(9)；激光器(1)输出的激光通过λ/2波片(2)调整激光的偏振面方向，使得激光与功率稳定器(3)正常工作状态时对输入激光偏振面的要求相匹配；通过功率稳定器(3)对激光功率进行调节，调节后的激光依次通过第一λ/4波片(4)、电光调制器(5)和第二λ/4波片(6)之后，进入碱金属气室(7)；电光调制器(5)用于对激光的偏振面进行调制，第一λ/4波片(4)和第二λ/4波片(6)为正交关系；激光经过碱金属气室(7)后，SERF陀螺仪的探测光信号加载在激光上输出，经过检偏器(8)之后最终通过光电探测器(9)进行采集；采集后的信号通过锁相放大器进行解调，输出陀螺仪探测光信号，同时，锁相放大器还产生调制信号，控制驱动电源为电光调制器(5)供电。
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