[发明专利]成像参数的基于谱拓扑图的确定有效

专利信息
申请号: 201910103146.1 申请日: 2019-02-01
公开(公告)号: CN110123352B 公开(公告)日: 2023-06-06
发明(设计)人: K.L.R.格兰特;B.施米德特 申请(专利权)人: 西门子保健有限责任公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03;A61B6/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 刘书航;刘春元
地址: 德国埃*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 公开了成像参数的基于谱拓扑图的确定。一种系统,包括:获取目标的谱拓扑图;基于谱拓扑图确定与目标的多个区域中的每个区域相关联的衰减以及多个区域中的每个区域的组成;基于所确定的衰减和组成来确定与多个区域相关联的成像参数;以及基于成像参数获取目标的图像。
搜索关键词: 成像 参数 基于 拓扑 确定
【主权项】:
1.一种系统,包括:成像系统,包括X射线源和X射线检测器,所述成像系统用来获取目标的谱拓扑图;和处理器,用来执行程序代码以:基于所述谱拓扑图确定与所述目标的多个区域中的每个区域相关联的衰减和所述多个区域中的每个区域的组成;基于所确定的衰减和组成,确定与所述多个区域关联的成像参数;和将所确定的成像参数传送到所述成像系统,其中,所述成像系统基于所传送的成像参数获取所述目标的图像。
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