[发明专利]一种具有内部集成温度保护装置的Mosfet半导体器件在审
申请号: | 201910104376.X | 申请日: | 2019-01-31 |
公开(公告)号: | CN109786367A | 公开(公告)日: | 2019-05-21 |
发明(设计)人: | 梁德新;向啟平 | 申请(专利权)人: | 惠州市忠邦电子有限公司 |
主分类号: | H01L25/07 | 分类号: | H01L25/07;H01L23/58;H01L23/64 |
代理公司: | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) 44349 | 代理人: | 陈文福 |
地址: | 516000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及一种集成温度保护装置的Mosfet半导体器件,将温度保护装置集成到Mosfet半导体器件内部,实现最高灵敏度的感知Mosfet半导体器件的温度变化,温度保护装置与Mosfet两者之间进行有效隔离,不产生漏电通路。 | ||
搜索关键词: | 温度保护装置 半导体器件 漏电通路 内部集成 有效隔离 灵敏度 感知 | ||
【主权项】:
1.一种具有内部集成温度保护装置的Mosfet半导体器件,包括框架本体区、载片基岛区、导电基盘、Mosfet芯片和温度保护装置,所述框架本体区和载片基岛区层叠设置,所述导电基盘、Mosfet芯片和温度保护装置均封装在所述载片基岛区内,所述Mosfet芯片上表面设有源极和栅极,下表面设有漏极,所述导电基盘由散热区和基盘引脚区组成,其特征在于:所述散热区位于Mosfet芯片和温度保护装置正下方,所述散热区与Mosfet芯片下表面之间通过导电焊料层电连接,所述散热区与温度保护装置下表面之间通过导电焊料层电连接,所述Mosfet芯片与温度保护装置之间形成隔离,相互之间绝缘,无电性连接;还包括第一导电焊盘和第二导电焊盘,所述第一导电焊盘、第二导电焊盘位于Mosfet芯片另一侧,第一导电焊盘和第二导电焊盘均包括焊接区和引脚区,所述焊接区封装在载片基岛区内,所述引脚区从所述载片基岛区内向外延伸形成引脚,所述所述Mosfet芯片电性连接所述第一导电焊盘的焊接区,所述温度保护装置电性连接所述第二导电焊盘的焊接区。
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