[发明专利]一种电路级单粒子效应敏感路径的搜索方法

摘要

一种电路级单粒子效应敏感路径的搜索方法。本发明提供一种电路级单粒子敏感路径搜索方法，该方法包括标准单元预处理环节、基于标准单元库文件、网表分析环节、电路功能仿真环节、软错误率计算环节以及统计和分析环节，其中软错误率计算环节根据电路功能仿真环节得到的值变转储文件逐周期查找网表分析环节得到的敏化条件表，确定不同逻辑门到触发器之间的敏化路径，当敏化条件成立时，相应计算SET产生及捕获概率，进而计算得到每个逻辑门在其每条路径上的软错误率。本发明能够在芯片设计的早期阶段(综合过程之后)评估系统软错误率情况，分析和计算电路中不同组合路径、不同逻辑门的单粒子瞬态易损性以及对系统整体的影响程度，从而可以有选择性地加固更敏感的单元。

主权项

1.一种电路级单粒子效应敏感路径的搜索方法，其特征在于，包括：标准单元预处理环节，基于标准单元库文件，获得每个逻辑门的敏感区域面积，并通过Spice仿真获得每个逻辑门的临界电荷；网表分析环节，读取电路综合后的门级网表，分析电路结构，找到所有组合路径，并建立任意逻辑门到任意触发器的敏化条件表；电路功能仿真环节，根据系统外部输入激励，在设定的时长内对被测电路进行仿真，记录被测电路每个时刻各逻辑门和触发器的逻辑状态，得到值变转储文件；软错误率计算环节，根据电路功能仿真环节得到的值变转储文件逐周期查找网表分析环节得到的敏化条件表，确定不同逻辑门到触发器之间的敏化路径，当敏化条件成立时，相应计算SET产生概率和SET捕获概率，进而计算得到每个逻辑门在其每条路径上的软错误率；其中，SET产生概率的计算因子包括标准单元预处理环节得到的敏感区域面积和临界电荷；最后记录所述设定的时长内所有周期的软错误率；统计和分析环节，根据每个逻辑门在其每条路径上的软错误率，统计分析得出用户所需的信息。