[发明专利]一种基于非延时干涉环的高阶时间-频率调制QKD测量方法有效
申请号: | 201910106552.3 | 申请日: | 2019-02-02 |
公开(公告)号: | CN109889259B | 公开(公告)日: | 2020-09-25 |
发明(设计)人: | 孙咏梅;牛佳宁;纪越峰 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | H04B10/079 | 分类号: | H04B10/079;H04B10/70;H04L9/08 |
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地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于非延时干涉环的高阶时间‑频率调制QKD测量方法。本方法主要为高阶时间‑频率调制的QKD系统提供了高效率的测量方案。方案中通过采用光开关、延时线以及非延时干涉环等部件代替了传统的延时干涉环。由于光开关和延时线的串并转换功能以及非延时干涉环的时间对齐式干涉特性使得信号经过干涉后只存在一个干涉波包,避免了测量过程中的额外信号损失。提出的方案能够有效的提高高阶时间‑频率调制QKD系统的测量效率,从而提高了密钥生成率,并且该方案具有易实施等特点,为高阶量子密钥分配系统的实际搭建提供了技术支持。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 延时 干涉 时间 频率 调制 qkd 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于非延时干涉环的高阶时间‑频率调制量子密钥分配系统测量方法,目的在于提高系统的测量效率,从而提高安全密钥生成率,主要技术要点包括:A.由光开关、延时线及单光子探测器实现的时域测量模块;B.由光开关、延时线、非延时干涉环及单光子探测器实现的频域测量模块;C.由以上时域测量模块和频域测量模块组合而成的系统整体测量方法。
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