[发明专利]一种电化学中基于荧光颗粒标记与主动光学测量的位移/应变测量方法有效
| 申请号： | 201910107773.2 | 申请日： | 2019-02-01 |
| 公开（公告）号： | CN109945776B | 公开（公告）日： | 2021-05-25 |
| 发明（设计）人： | 张茜;杨伟;石宝琴;谢海妹;亢一澜 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01B7/16 | 分类号： | G01B7/16;G01B7/02 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 李素兰 |
| 地址： | 300350 天津市津南区海*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电化学中基于荧光颗粒标记与主动光学测量的位移/应变测量方法。基于传统的DIC装置，将白色光源替换为单色激光光源，激光光源为避免与CCD相机位置的干涉，摆放位置与CCD相机成小角度的倾斜形式；在激光光源位置前加装扩束镜，扩大激光光束直径，确保激光能够照射试件表面待测区域；CCD相机摆放位置为正对试件表面，相机与试件之间的距离以能够成像清晰为准；由于采用单色激光光源，在CCD相机镜头前安装有滤光片，进行选择性滤光；与CCD相机配套的为计算机及图像采集卡的采集系统。本发明优化了散斑质量，提高了计算结果的精度要求，可广泛应用在光照变化剧烈、高温、电化学反应等特殊条件下材料的变形测量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电化学 基于 荧光 颗粒 标记 主动 光学 测量 位移 应变 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种准确测量电化学多场耦合条件下电极材料的位移/应变测量系统，其特征是电极表面使用荧光颗粒作为斑点；光源采用单色激光光源，在CCD相机镜头前安装有滤光片。
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