[发明专利]一种高堆叠层数3D NAND闪存的制作方法及3D NAND闪存有效

专利信息
申请号: 201910109767.0 申请日: 2017-11-21
公开(公告)号: CN110010620B 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 陈子琪;李超;吴关平 申请(专利权)人: 长江存储科技有限责任公司
主分类号: H01L27/11582 分类号: H01L27/11582;H01L27/1157
代理公司: 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 代理人: 董琳
地址: 430074 湖北省武汉市洪山区东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种高堆叠层数3D NAND闪存的制作方法及3D NAND闪存,包括以下步骤:提供一个基片晶圆,所述基片晶圆上具有MOS器件区和第一存储器件区;提供一个键合晶圆,所述键合晶圆上具有金属连线区和第二存储器件区;键合连接;具体为将键合晶圆翻转,使得所述金属连线区对应MOS器件区,第二存储器件区对应第一存储器件区,并依靠范德华力使得键合晶圆和基片晶圆直接键合连接;连接后处理;具体包括将键合晶圆进行衬底减薄,制造金属互联层,形成与MOS器件和存储器件的金属连线。本发明克服了现有工艺对于N/O堆叠结构的层数限制,获得高堆叠层数3D NAND闪存,提高3D NAND闪存的存储能力。
搜索关键词: 一种 堆叠 层数 nand 闪存 制作方法
【主权项】:
1.一种高堆叠层数3D NAND闪存的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一个基片晶圆,所述基片晶圆上具有MOS器件区和第一存储器件区,其中所述第一存储器件区包括第1沟道孔阵列区;提供一个键合晶圆,所述键合晶圆上具有金属连线区和第二存储器件区,其中所述第二存储器件区包括第2沟道孔阵列区;键合连接;具体为将键合晶圆翻转,使得所述金属连线区对应MOS器件区,第二存储器件区对应第一存储器件区,所述第1沟道孔阵列区对应所述第2沟道孔阵列区,并将键合晶圆和基片晶圆直接键合连接;连接后处理;具体包括将键合晶圆进行衬底减薄,制造金属互联层,形成与MOS器件和存储器件的金属连线。
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