[发明专利]一种高堆叠层数3D NAND闪存的制作方法及3D NAND闪存有效
申请号: | 201910109767.0 | 申请日: | 2017-11-21 |
公开(公告)号: | CN110010620B | 公开(公告)日: | 2021-04-13 |
发明(设计)人: | 陈子琪;李超;吴关平 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L27/11582 | 分类号: | H01L27/11582;H01L27/1157 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 董琳 |
地址: | 430074 湖北省武汉市洪山区东*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了一种高堆叠层数3D NAND闪存的制作方法及3D NAND闪存,包括以下步骤:提供一个基片晶圆,所述基片晶圆上具有MOS器件区和第一存储器件区;提供一个键合晶圆,所述键合晶圆上具有金属连线区和第二存储器件区;键合连接;具体为将键合晶圆翻转,使得所述金属连线区对应MOS器件区,第二存储器件区对应第一存储器件区,并依靠范德华力使得键合晶圆和基片晶圆直接键合连接;连接后处理;具体包括将键合晶圆进行衬底减薄,制造金属互联层,形成与MOS器件和存储器件的金属连线。本发明克服了现有工艺对于N/O堆叠结构的层数限制,获得高堆叠层数3D NAND闪存,提高3D NAND闪存的存储能力。 | ||
搜索关键词: | 一种 堆叠 层数 nand 闪存 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种高堆叠层数3D NAND闪存的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:提供一个基片晶圆,所述基片晶圆上具有MOS器件区和第一存储器件区,其中所述第一存储器件区包括第1沟道孔阵列区;提供一个键合晶圆,所述键合晶圆上具有金属连线区和第二存储器件区,其中所述第二存储器件区包括第2沟道孔阵列区;键合连接;具体为将键合晶圆翻转,使得所述金属连线区对应MOS器件区,第二存储器件区对应第一存储器件区,所述第1沟道孔阵列区对应所述第2沟道孔阵列区,并将键合晶圆和基片晶圆直接键合连接;连接后处理;具体包括将键合晶圆进行衬底减薄,制造金属互联层,形成与MOS器件和存储器件的金属连线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长江存储科技有限责任公司,未经长江存储科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910109767.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:三维半导体元件及其制造方法
- 下一篇:电致发光显示装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的