[发明专利]用于通过基材料分解来评估多能量X射线图像的方法有效
申请号: | 201910110778.0 | 申请日: | 2019-02-11 |
公开(公告)号: | CN110133005B | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 马库斯·菲尔兴;亚历山大·恩嫩 | 申请(专利权)人: | 弗劳恩霍夫应用研究促进协会 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/046;G01N23/2273 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 余婧娜 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了通过BMD来评估多能量X射线图像的方法,包括:a)获得材料的多能量X射线图像;b)处理多能量X射线图像以获得被分配给第一基材料的区域的第一表示以及被分配给第二基材料的区域的第二表示;c)、d)相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示以及相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示评估第一表示和第二表示。利用分配给其他第一基材料的改变后的第一参考值和/或分配给其他第二基材料的改变后的第二参考值重复步骤b)至d)以获得其他第一表示和其他第二表示。执行评估直到在其他第一表示中的第二区域的显示最少或就其量而言最少为止和/或直到在其他第二表示中的第一区域的显示最少或就其量而言最少为止。 | ||
搜索关键词: | 用于 通过 基材 分解 评估 多能 射线 图像 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于通过基材料分解来评估多能量X射线图像的方法(100):a)获得(110)材料的多能量X射线图像,所述材料包括属于第一材料的第一材料区域和属于第二材料的第二材料区域;b)通过将在对所述材料的辐射期间每个区域测量到的辐射值与至少针对第一基材料的第一参考值(B1)和针对第二基材料的第二参考值(B2)进行比较来处理(120)所述多能量X射线图像,以获得表征所述第一基材料的区域的第一表示和表征所述第二基材料的区域的第二表示;c)相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示以及相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示,评估(130)所述第一表示;d)相对于由对第二材料区域的辐射得到的第二区域的显示以及相对于由对第一材料区域的辐射得到的第一区域的显示,评估(140)所述第二表示;以及e)利用被分配给其他第一基材料的改变后的第一参考值(B1′)和被分配给其他第二基材料的改变后的第二参考值(B2′)来重复(150)步骤b)至d),以获得和评估其他第一表示和其他第二表示,直到在其他第一表示中的第二区域的显示最少或就其量而言最少为止、和/或直到在其他第二表示中的第一区域的显示最少或就其量而言最少为止。
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